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        1. 服務項目
          IC真?zhèn)螜z測
          DPA檢測
          失效分析
          開發(fā)及功能驗證
          材料分析
          可靠性驗證
          電磁兼容(EMC)
          化學分析
          無損檢測
          標簽檢測
          外觀檢測
          X-Ray檢測
          功能檢測
          破壞性檢測
          丙酮測試
          刮擦測試
          HCT測試
          開蓋測試
          增值服務
          烘烤
          編帶
          包裝與物流
          DPA檢測-三級
          外觀檢測
          X-Ray檢測
          功能檢測
          粒子碰撞噪聲檢測
          密封
          內(nèi)部水汽含量
          超聲波掃描(SAT檢測)
          可焊性測試
          開蓋測試
          鍵合強度
          芯片剪切強度
          結(jié)構(gòu)
          非破壞分析
          3D數(shù)碼顯微鏡
          X-Ray檢測
          超聲波掃描(SAT檢測)
          電性檢測
          半導體組件參數(shù)分析
          電特性測試
          點針信號量測
          靜電放電/過度電性應力/閂鎖試驗
          失效點定位
          砷化鎵銦微光顯微鏡
          激光束電阻異常偵測
          Thermal EMMI(InSb)
          破壞性物理分析
          開蓋測試
          芯片去層
          切片測試
          物性分析
          剖面/晶背研磨
          離子束剖面研磨(CP)
          掃描式電子顯微鏡(SEM)
          工程樣品封裝服務
          晶圓劃片
          芯片打線/封裝
          競爭力分析
          芯片結(jié)構(gòu)分析
          新產(chǎn)品開發(fā)測試(FT)
          FPGA開發(fā)
          單片機開發(fā)
          測試電路板設計/制作
          關(guān)鍵功能測試
          分立元器件測試
          功能檢測
          編程燒錄
          芯片電路修改
          芯片電路修改/點針墊偵錯
          新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
          結(jié)構(gòu)觀察
          穿透式電子顯微鏡(TEM)
          掃描式電子顯微鏡(SEM)
          雙束聚焦離子束
          成分分析
          穿透式電子顯微鏡(TEM)
          掃描式電子顯微鏡(SEM)
          光譜能量分析儀
          光譜能量分析儀
          車載集成電路可靠性驗證
          車電零部件可靠性驗證(AEC)
          板階 (BLR) 車電可靠性驗證
          車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗證
          可靠度板階恒加速試驗
          間歇工作壽命試驗(IOL)
          可靠度外形尺寸試驗
          可靠度共面性試驗
          環(huán)境類試驗
          高低溫
          恒溫恒濕
          冷熱沖擊
          HALT試驗
          HASS試驗
          快速溫變
          溫度循環(huán)
          UV紫外老化
          氙燈老化
          水冷測試
          高空低氣壓
          交變濕熱
          機械類試驗
          拉力試驗
          芯片強度試驗
          高應變率-振動試驗
          低應變率-板彎/彎曲試驗
          高應變率-機械沖擊試驗
          芯片封裝完整性-封裝打線強度試驗
          芯片封裝完整性-封裝體完整性測試
          三綜合(溫度、濕度、振動)
          四綜合(溫度、濕度、振動、高度)
          自由跌落
          紙箱抗壓
          腐蝕類試驗
          氣體腐蝕
          鹽霧
          臭氧老化
          耐試劑試驗
          IP防水/防塵試驗
          IP防水等級(IP00~IP69K)
          冰水沖擊
          浸水試驗
          JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試
          IP防塵等級(IP00~IP69)
          電磁兼容(EMC)
          射頻場感應的傳導騷擾抗擾度
          傳導干擾測試
          電磁輻射比吸收率測試
          電快速瞬變脈沖群抗擾度測試
          電壓閃爍測試
          電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度
          工頻磁場抗擾度測試
          諧波干擾測試
          靜電放電抗擾度測試
          浪涌(沖擊)抗擾度測試
          輻射干擾測試
          無線射頻測試
          高效液相色譜分析(HPLC)
          ROHS檢測
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          阻燃性試驗
          阻燃性試驗
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          測試案例(報告形式)
          檢測標準
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          Mos管(場效應管)失效分析知識點詳解
          Mos管(場效應管)失效分析知識點詳解

          MOS管做為電壓驅(qū)動大電流型器件,在電路尤其是動力系統(tǒng)中大量應用,MOS管有一些特性在實際應用中是我們應該特別注意的。

          2022-01-10 13:47:26
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          MOS管
          Mos管被靜電擊穿的原因分析及解決方案

          MOS管學名是場效應管,是金屬-氧化物-半導體型場效應管,屬于絕緣柵型。MOS管為什么會被靜電擊穿?靜電擊穿是指擊穿MOS管G極的那層絕緣層嗎?擊穿就一定短路了嗎?JFET管靜電擊穿又是怎么回事?

          2022-01-10 13:35:00
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          Image
          這些原廠漲價生效,請查收!—— 2021年12月行業(yè)資訊匯總

          缺芯大潮不休不止,元旦前后又有幾個原廠的漲價生效,這其中有的在去年第四季度公布,有的是剛剛公布。這批原廠漲價,剛好對應新一輪晶圓代工漲價,這次又是聯(lián)電“戲最多”。除此以外,近期的存儲市場也因疫情出現(xiàn)變數(shù),但相比晶圓代工,影響較為有限。

          2022-01-07 13:32:00
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          電子產(chǎn)品測試機構(gòu):可靠性測試芯片的方法
          電子產(chǎn)品測試機構(gòu):可靠性測試芯片的方法

          芯片質(zhì)量好壞主要是由市場,性能和可靠性三要素決定的。首先,在芯片的開發(fā)前期,需要對市場進行充分調(diào)研,才能定義出符合客戶需求的SPEC;其次是性能,IC設計工程師設計出來的電路需要通過designer仿真,DFT電路驗證,實驗室樣品評估,及樣品出貨前的FT,才能認為性能符合前期定義的要求;最后是可靠性,由于經(jīng)過測試的芯片只能保證客戶在剛拿到樣品的時候是好的,所以還需要進行一系列應力測試,模擬客戶端一些嚴苛使用條件對芯片的沖擊,以評估芯片的壽命及可能存在的質(zhì)量風險。

          2022-01-07 13:30:00
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          元器件檢測技能:電子元件故障檢查注意事項
          元器件檢測技能:電子元件故障檢查注意事項

          一般數(shù)字電路只要設計沒有問題,數(shù)字電路是比較穩(wěn)定的。最容易出問題的是那些分離元件,比如晶體管等等。所以在設計中最好用比較成熟的電路和集成電路模塊,這樣會保證系統(tǒng)的穩(wěn)定性。針對電子產(chǎn)品故障現(xiàn)象,可以通過觀察、聽覺、噢覺和觸覺去處理故障元器件,省去許多不必要的測試手段。如果上述方法都不奏效,就需要使用儀器儀表對可疑元件和有關(guān)電路進行測試,找出故障點。當某些元器件發(fā)生故障以后,通常會造成整個或個別部分電路停機,使之無法工作,對電子產(chǎn)品產(chǎn)生不正常的變化,故對元器件故障的判斷與維修是一個十分重要的步驟。

          2022-01-07 12:00:10
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          一些常見電子元器件失效檢測
          一些常見電子元器件失效檢測

          電子設備中使用著大量各種類型的電子元器件,設備發(fā)生故障大多是由于電子元器件失效或損壞引起的。失效分析在產(chǎn)品的可靠性質(zhì)量保證和提高中發(fā)揮著重要作用,在產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需要引入失效分析工作。下面是部分常見電子元器件失效檢測整理的相關(guān)內(nèi)容,供大家參考。

          2022-01-07 11:56:00
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          語音芯片如何燒錄語音?快來看看你了解多少!
          語音芯片如何燒錄語音?快來看看你了解多少!

          語音芯片是可以存儲控制播放語音的集成電路,英文名為Speech IC,是內(nèi)置少量存儲空間,1Mbit-4Mbit,存儲時間為40-160秒的,可由按鍵控制或MCU控制的、直接發(fā)聲的集成電路芯片。也是將語音信號通過采樣轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號,存儲在集成電路的ROM中,再通過電路將ROM中的數(shù)字還原成語音信號。從名字的意義上,就可以看出,它是一種在電子產(chǎn)品的基礎上增加語音的功能,也就是說把錄入的語音通過改芯片進行處理后通過喇叭播放出來。

          2022-01-06 11:52:44
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          如何檢測芯片是否能燒錄?語音芯片的燒錄方法
          如何檢測芯片是否能燒錄?語音芯片的燒錄方法

          芯片燒錄的方法有很多,在大規(guī)模生產(chǎn)中,還是以燒錄器燒錄為主。使用燒錄器燒錄,就都得使用到燒錄座。每個燒錄座的使用次數(shù)就不能得到有效的監(jiān)控,一旦超過燒錄座的使用壽命,就沒辦法保證芯片的燒錄品質(zhì)。而燒錄座也不具備偵測該燒錄座與所需燒寫的芯片的是否匹配的功能,那么該如何檢測芯片是否能燒錄?

          2022-01-06 11:41:00
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          芯片測試公司:ic芯片燒錄后是否可以重燒?
          芯片測試公司:ic芯片燒錄后是否可以重燒?

          隨著電子技術(shù)的發(fā)展,芯片需求量不斷增加,為了提高生產(chǎn)的效率,多工位ic芯片燒錄技術(shù)已經(jīng)被廣泛的使用。燒錄芯片就是芯片作為一種處理器,在工作上需要有程序,來將所有組件小型化至一塊或數(shù)塊集成電路內(nèi);一種集成電路,可在其一端或多端接受編碼指令,執(zhí)行此指令并輸出描述其狀態(tài)的信號,而將程序存儲到芯片中的這一過程,就被稱為芯片燒錄。

          2022-01-06 11:38:00
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          關(guān)于集成電路的好壞判斷檢測方法總結(jié)
          關(guān)于集成電路的好壞判斷檢測方法總結(jié)

          現(xiàn)在的電子產(chǎn)品往往由于一塊集成電路損壞,導致一部分或幾個部分不能常工作,影響設備的正常使用。那么如何檢測集成電路的好壞呢?集成電路的好壞檢測方法主要有目測法、感覺法、電壓檢測法、電阻檢測法、電流檢測法、信號注入法、代換法、加熱和冷卻法、升壓或降壓法和綜合法。

          2022-01-05 15:46:13
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          1 2 … 117 118 119 120 121 … 158 159
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