服務(wù)項(xiàng)目
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    DPA檢測(cè)
    失效分析
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    材料分析
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    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    功能檢測(cè)
    破壞性檢測(cè)
    丙酮測(cè)試
    刮擦測(cè)試
    HCT測(cè)試
    開蓋測(cè)試
    增值服務(wù)
    烘烤
    編帶
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    DPA檢測(cè)-三級(jí)
    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    功能檢測(cè)
    粒子碰撞噪聲檢測(cè)
    密封
    內(nèi)部水汽含量
    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
    可焊性測(cè)試
    開蓋測(cè)試
    鍵合強(qiáng)度
    芯片剪切強(qiáng)度
    結(jié)構(gòu)
    非破壞分析
    3D數(shù)碼顯微鏡
    X-Ray檢測(cè)
    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
    電性檢測(cè)
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    電特性測(cè)試
    點(diǎn)針信號(hào)量測(cè)
    靜電放電/過度電性應(yīng)力/閂鎖試驗(yàn)
    失效點(diǎn)定位
    砷化鎵銦微光顯微鏡
    激光束電阻異常偵測(cè)
    Thermal EMMI(InSb)
    破壞性物理分析
    開蓋測(cè)試
    芯片去層
    切片測(cè)試
    物性分析
    剖面/晶背研磨
    離子束剖面研磨(CP)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    工程樣品封裝服務(wù)
    晶圓劃片
    芯片打線/封裝
    競(jìng)爭力分析
    芯片結(jié)構(gòu)分析
    新產(chǎn)品開發(fā)測(cè)試(FT)
    FPGA開發(fā)
    單片機(jī)開發(fā)
    測(cè)試電路板設(shè)計(jì)/制作
    關(guān)鍵功能測(cè)試
    分立元器件測(cè)試
    功能檢測(cè)
    編程燒錄
    芯片電路修改
    芯片電路修改/點(diǎn)針墊偵錯(cuò)
    新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
    結(jié)構(gòu)觀察
    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    雙束聚焦離子束
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    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    光譜能量分析儀
    光譜能量分析儀
    車載集成電路可靠性驗(yàn)證
    車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC)
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    水冷測(cè)試
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    機(jī)械類試驗(yàn)
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    芯片強(qiáng)度試驗(yàn)
    高應(yīng)變率-振動(dòng)試驗(yàn)
    低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗(yàn)
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    芯片封裝完整性-封裝打線強(qiáng)度試驗(yàn)
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    三綜合(溫度、濕度、振動(dòng))
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    IP防水等級(jí)(IP00~IP69K)
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    IP防塵等級(jí)(IP00~IP69)
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    阻燃性試驗(yàn)
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    cpu開蓋什么意思?開蓋測(cè)試的常見問題匯總
    cpu開蓋什么意思?開蓋測(cè)試的常見問題匯總

    從宏觀人類的意義上來說,CPU 是目前人類科技含量最高,工藝最復(fù)雜,結(jié)構(gòu)最精細(xì)的產(chǎn)物結(jié)晶。從微觀每個(gè)人的角度上來說,CPU 好像也就不過是個(gè)商品,還是大家都能買得起的那種。cpu 內(nèi)部主要是由一大堆的運(yùn)算器、控制器、寄存器組成。CPU開蓋是什么意思?CPU開蓋無非就是將CPU的頂部金屬蓋通過CPU開蓋器進(jìn)行打開,主要就是為了將晶圓上的硅脂替換為液金,進(jìn)一步提升CPU的散熱性能。

    2021-11-08 18:25:01
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    快速溫變測(cè)試-可靠性測(cè)試
    快速溫變測(cè)試-可靠性測(cè)試

    快速溫變測(cè)試是環(huán)境試驗(yàn)的一種,應(yīng)用快速溫變?cè)囼?yàn)箱設(shè)置一定的溫度變化速率進(jìn)行高溫與低溫之間的快速轉(zhuǎn)變。用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速變化的氣候環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性??焖贉刈儨y(cè)試的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫度范圍、變換的時(shí)間以及循環(huán)數(shù)。測(cè)試過程一般以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個(gè)測(cè)試循環(huán)。驗(yàn)證樣品經(jīng)溫度變化或溫度連續(xù)變化環(huán)境后之功能特性變化,或在此環(huán)境中之操作功能性。

    2021-11-05 15:00:00
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    image
    十月芯資訊回顧:晶圓代工繼續(xù)漲,征集數(shù)據(jù)引風(fēng)波

    10月,缺芯行情依然在延續(xù)。金融機(jī)構(gòu)Susquehanna數(shù)據(jù)指出10月芯片交期延遲至21.9周,再次創(chuàng)新高。供不應(yīng)求的市場(chǎng)局勢(shì),促使上個(gè)月多家晶圓代工廠又開始新一輪的漲價(jià),影響將會(huì)延續(xù)到明年。

    2021-11-05 14:15:00
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    IP防塵防水測(cè)試
    IP防塵防水測(cè)試

    IP(INGRESS PROTECTION)防護(hù)等級(jí)系統(tǒng)是由IEC(INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION)所起草,將電器依其防塵防濕氣之特性加以分級(jí)。IP防護(hù)等級(jí)是由兩個(gè)數(shù)字所組成,第1個(gè)數(shù)字表示電器防塵、防止外物侵入的等級(jí)(這里所指的外物含工具,人的手指等均不可接觸到電器之內(nèi)帶電部分,以免觸電),第2個(gè)數(shù)字表示電器防濕氣、防水浸入的密閉程度,數(shù)字越大表示其防護(hù)等級(jí)越高。IP防護(hù)等級(jí)系統(tǒng)提供了一個(gè)以電器設(shè)備和包裝的防塵、防水和防碰撞程度來對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分

    2021-11-05 14:10:00
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    IP防水測(cè)試-可靠性測(cè)試.png
    防水測(cè)試-可靠性測(cè)試

    防水測(cè)試適用于在運(yùn)輸、貯存或使用期間可能遭受沖水的電工電子產(chǎn)品,有關(guān)規(guī)范應(yīng)詳細(xì)說明電工電子產(chǎn)品是否必須在試驗(yàn)期間正常工作,還能經(jīng)受沖水條件而保持完好。在日常生活中,電子電器類產(chǎn)品都有一定的防塵防水能力,防塵測(cè)試常用作檢測(cè)電子電工產(chǎn)品在微塵環(huán)境中的防護(hù)能力。防護(hù)能力越高就越能減少惡劣的外界環(huán)境因素給電子產(chǎn)品造成的損傷,設(shè)備的密封能力對(duì)于保證設(shè)備安全運(yùn)作和壽命至關(guān)重要。防水測(cè)試常用于電工電子產(chǎn)品及材料在沖水條件下的運(yùn)作情況。產(chǎn)品在運(yùn)輸、貯存和使用期間可能遭到外界水分入侵,從而對(duì)產(chǎn)品造成傷害。

    2021-11-05 13:30:00
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    劃痕測(cè)試-可靠性測(cè)試
    劃痕測(cè)試-可靠性測(cè)試

    隨著工業(yè)和社會(huì)的快速進(jìn)步,中國的制造業(yè)在科技發(fā)展迅猛,并占據(jù)了領(lǐng)先地。在金屬軟件中,表面劃痕的檢測(cè)技術(shù)備受行業(yè)關(guān)注。表面劃痕檢測(cè)技術(shù)興于20世界50年代,主要采用人工目視檢測(cè)、檢測(cè)者憑借肉眼直接觀察缺陷。傳統(tǒng)的表面劃痕檢測(cè)技術(shù)存在諸多的弊端;如:人工檢測(cè)精度低且工人易疲勞,人工的檢測(cè)需要在高溫、噪聲、粉塵、震動(dòng)的環(huán)境下工作,對(duì)身體及心理造成了極大的傷害。隨著工業(yè)4.0的發(fā)展趨勢(shì),人工智能視覺檢測(cè)技術(shù)的各個(gè)行業(yè)中的運(yùn)用,越來越多的生產(chǎn)型企業(yè)采用機(jī)器視覺檢測(cè)設(shè)備來把控自己生產(chǎn)的產(chǎn)品質(zhì)量。

    2021-11-04 17:45:51
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    恒溫恒濕測(cè)試-可靠性測(cè)試
    恒溫恒濕測(cè)試-可靠性測(cè)試

    恒溫恒濕測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的一種環(huán)境可靠性檢測(cè)。即模擬產(chǎn)品存儲(chǔ)、工作的溫濕度環(huán)境,檢驗(yàn)產(chǎn)品在此環(huán)境下一段時(shí)間后所受到的影響是否在可接受的范圍內(nèi)。恒溫恒濕一般為高溫高濕隨著對(duì)質(zhì)量控制的要求越來越嚴(yán)格,恒溫恒濕環(huán)境的需求越來越大,應(yīng)用領(lǐng)域也越來越寬廣。恒溫恒濕測(cè)試可以模擬高溫、低溫、濕熱環(huán)境對(duì)測(cè)試品進(jìn)行特定環(huán)境下溫度和濕度試驗(yàn)。恒溫恒濕測(cè)試可以保證被測(cè)試產(chǎn)品處于同一溫濕度環(huán)境條件下。

    2021-11-04 17:22:00
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    防塵測(cè)試-可靠性測(cè)試
    防塵測(cè)試-可靠性測(cè)試

    防塵測(cè)試用于檢測(cè)電工電子產(chǎn)品、汽車摩托車零部件、密封件在砂塵環(huán)境中防止砂塵進(jìn)入密封件和外殼的試驗(yàn),確定空氣中懸浮的沙塵對(duì)產(chǎn)品的影響的試驗(yàn)方法。以檢驗(yàn)電子電工產(chǎn)品、汽車、摩托車零部件、密封件在砂塵環(huán)境中的使用、貯存、運(yùn)輸?shù)男阅堋?/span>

    2021-11-03 17:26:00
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    百格測(cè)試(cross-cut test)-可靠性測(cè)試
    百格測(cè)試(cross-cut test)-可靠性測(cè)試

    百格測(cè)試用于均勻劃出一定規(guī)格尺寸的方格,通過評(píng)定方格內(nèi)涂膜的完整程度來評(píng)定涂膜對(duì)基材附著程度,以‘級(jí)’表示。它主要用于有機(jī)涂料劃格法附著力的測(cè)定,不僅適用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于各種條件下的施工現(xiàn)場(chǎng)。一般而言是測(cè)試對(duì)象在經(jīng)過涂裝之后測(cè)試其附著度的工具。按照日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(JIS),分為1~5級(jí),級(jí)數(shù)越高,要求越嚴(yán)格,當(dāng)客戶規(guī)范當(dāng)中要求是第5級(jí)時(shí),表示完全不能有脫落。

    2021-11-03 16:52:00
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    加速老化測(cè)試(HAST)—可靠性測(cè)試
    加速老化測(cè)試(HAST)-可靠性測(cè)試

    HAST高度加速的溫度和濕度壓力測(cè)試(HAST)是一個(gè)高度加速,以溫度和濕度為基礎(chǔ)的電子元件可靠性試驗(yàn)方法。環(huán)境參數(shù), HAST也稱為壓力測(cè)試(PCT)或不飽和壓力試驗(yàn)(USPCT)。其目的是評(píng)估測(cè)試樣本,通過將試驗(yàn)室中的水蒸汽壓力增加到一定的耐濕性。比試樣內(nèi)部的部分水蒸汽壓力高得多。這個(gè)過程暫時(shí)加速水分滲入樣品中。

    2021-11-03 16:23:00
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