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          <th id="005k0"><sup id="005k0"><samp id="005k0"></samp></sup></th>
              1. 服務(wù)項目
                IC真?zhèn)螜z測
                DPA檢測
                失效分析
                開發(fā)及功能驗證
                材料分析
                可靠性驗證
                電磁兼容(EMC)
                化學(xué)分析
                無損檢測
                標(biāo)簽檢測
                外觀檢測
                X-Ray檢測
                功能檢測
                破壞性檢測
                丙酮測試
                刮擦測試
                HCT測試
                開蓋測試
                增值服務(wù)
                烘烤
                編帶
                包裝與物流
                DPA檢測-三級
                外觀檢測
                X-Ray檢測
                功能檢測
                粒子碰撞噪聲檢測
                密封
                內(nèi)部水汽含量
                超聲波掃描(SAT檢測)
                可焊性測試
                開蓋測試
                鍵合強(qiáng)度
                芯片剪切強(qiáng)度
                結(jié)構(gòu)
                非破壞分析
                3D數(shù)碼顯微鏡
                X-Ray檢測
                超聲波掃描(SAT檢測)
                電性檢測
                半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
                電特性測試
                點(diǎn)針信號量測
                靜電放電/過度電性應(yīng)力/閂鎖試驗
                失效點(diǎn)定位
                砷化鎵銦微光顯微鏡
                激光束電阻異常偵測
                Thermal EMMI(InSb)
                破壞性物理分析
                開蓋測試
                芯片去層
                切片測試
                物性分析
                剖面/晶背研磨
                離子束剖面研磨(CP)
                掃描式電子顯微鏡(SEM)
                工程樣品封裝服務(wù)
                晶圓劃片
                芯片打線/封裝
                競爭力分析
                芯片結(jié)構(gòu)分析
                新產(chǎn)品開發(fā)測試(FT)
                FPGA開發(fā)
                單片機(jī)開發(fā)
                測試電路板設(shè)計/制作
                關(guān)鍵功能測試
                分立元器件測試
                功能檢測
                編程燒錄
                芯片電路修改
                芯片電路修改/點(diǎn)針墊偵錯
                新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
                結(jié)構(gòu)觀察
                穿透式電子顯微鏡(TEM)
                掃描式電子顯微鏡(SEM)
                雙束聚焦離子束
                成分分析
                穿透式電子顯微鏡(TEM)
                掃描式電子顯微鏡(SEM)
                光譜能量分析儀
                光譜能量分析儀
                車載集成電路可靠性驗證
                車電零部件可靠性驗證(AEC)
                板階 (BLR) 車電可靠性驗證
                車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗證
                可靠度板階恒加速試驗
                間歇工作壽命試驗(IOL)
                可靠度外形尺寸試驗
                可靠度共面性試驗
                環(huán)境類試驗
                高低溫
                恒溫恒濕
                冷熱沖擊
                HALT試驗
                HASS試驗
                快速溫變
                溫度循環(huán)
                UV紫外老化
                氙燈老化
                水冷測試
                高空低氣壓
                交變濕熱
                機(jī)械類試驗
                拉力試驗
                芯片強(qiáng)度試驗
                高應(yīng)變率-振動試驗
                低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗
                高應(yīng)變率-機(jī)械沖擊試驗
                芯片封裝完整性-封裝打線強(qiáng)度試驗
                芯片封裝完整性-封裝體完整性測試
                三綜合(溫度、濕度、振動)
                四綜合(溫度、濕度、振動、高度)
                自由跌落
                紙箱抗壓
                腐蝕類試驗
                氣體腐蝕
                鹽霧
                臭氧老化
                耐試劑試驗
                IP防水/防塵試驗
                IP防水等級(IP00~IP69K)
                冰水沖擊
                浸水試驗
                JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試
                IP防塵等級(IP00~IP69)
                電磁兼容(EMC)
                射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
                傳導(dǎo)干擾測試
                電磁輻射比吸收率測試
                電快速瞬變脈沖群抗擾度測試
                電壓閃爍測試
                電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度
                工頻磁場抗擾度測試
                諧波干擾測試
                靜電放電抗擾度測試
                浪涌(沖擊)抗擾度測試
                輻射干擾測試
                無線射頻測試
                高效液相色譜分析(HPLC)
                ROHS檢測
                裂解/氣相色譜/質(zhì)譜聯(lián)用分析(PY-GC-MS)
                REACH檢測
                電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析(ICP-OES)
                重金屬檢測
                無鉛測試
                阻燃性試驗
                阻燃性試驗
                應(yīng)用領(lǐng)域
                案例標(biāo)準(zhǔn)
                測試案例(報告形式)
                檢測標(biāo)準(zhǔn)
                IC真?zhèn)螜z測
                失效分析
                功能檢測
                開蓋檢測
                X-Ray檢測
                編程燒錄
                可焊性測試
                外觀檢測
                電特性測試
                切片檢測
                SAT檢測
                DPA檢測
                ROHS檢測
                溫度老化測試
                IGBT檢測
                AS6081標(biāo)準(zhǔn)
                AEC-Q100測試項目
                參考標(biāo)準(zhǔn)
                GJB 548標(biāo)準(zhǔn)
                新聞動態(tài)
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                電子元器件第三方檢測:關(guān)于產(chǎn)品質(zhì)量如何判斷?
                電子元器件第三方檢測:關(guān)于產(chǎn)品質(zhì)量如何判斷?

                電子元器件檢測是檢測服務(wù)行業(yè)技術(shù)在電子信息產(chǎn)業(yè)中的運(yùn)用,隨著智能化程度大大提高,對電子產(chǎn)品的可靠性要求已成為衡量電子產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo)。這也是電子元器件具體產(chǎn)業(yè)鏈中的重要環(huán)節(jié),檢測服務(wù)技術(shù)水平與電子元器件質(zhì)量息息相關(guān)。下面我們就一起來看看電子元器件的質(zhì)量該如何判斷?

                2021-10-18 14:46:20
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                機(jī)器視覺外觀設(shè)備如何檢測元器件缺陷?
                機(jī)器視覺外觀設(shè)備如何檢測元器件缺陷?

                外觀檢測是基于機(jī)器視覺系統(tǒng)的檢測設(shè)備,它能夠替代傳統(tǒng)的人工檢測,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品外觀在線高速自動化檢測以及產(chǎn)品表面瑕疵缺陷特征的自動識別。外機(jī)器視覺檢測設(shè)備是最近幾年發(fā)展壯大起來的一種可以替代人眼來對企業(yè)產(chǎn)品的相關(guān)的各個環(huán)節(jié)進(jìn)行檢驗的一種機(jī)器設(shè)備。

                2021-10-18 14:42:41
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                外觀檢測:機(jī)器視覺解決方案應(yīng)用領(lǐng)域介紹
                外觀檢測:機(jī)器視覺解決方案應(yīng)用領(lǐng)域介紹

                機(jī)器視覺是人工智能的一個分支,用機(jī)器代替人眼來做測量和判斷。在工業(yè)自動化需求,及智能制造推動下,機(jī)器視覺下游應(yīng)用滲透率提升,行業(yè)空間廣闊。機(jī)器視覺解決方案應(yīng)用目前正從工業(yè)領(lǐng)域延展到非工業(yè)領(lǐng)域,以實(shí)現(xiàn)對事物的定位、檢測、測量、識別和判斷。

                2021-10-15 17:29:03
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                手工貼片焊接工藝需要注意的問題 了解這些事半功倍
                手工貼片焊接工藝需要注意的問題 了解這些事半功倍

                貼片元件以其體積小和便于維護(hù)越來越受大家的喜愛,大家可以使用合適的工具和掌握一些手工焊接貼片的知識,很快就會成為焊接貼片元件的專家。接下來我們主要講述手工貼片焊接工藝的注意事項。

                2021-10-15 17:21:00
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                電子元件有多少種封裝形式?一張表格教你看懂!
                電子元件有多少種封裝形式?一張表格教你看懂!

                封裝測試,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈得重要一環(huán)。封裝是指安裝半導(dǎo)體集成電路芯片用的外殼,起著安裝、固定、密封、保護(hù)芯片及增強(qiáng)電熱性能等方面的作用,不封裝的元件可能會影響性能,封裝之后也便于運(yùn)輸。由于封裝技術(shù)的好壞還直接影響到芯片自身性能的發(fā)揮和與之連接的pcb(印制電路板)的設(shè)計和制造,因此它是至關(guān)重要的。電子元件有多少種封裝形式?創(chuàng)芯一張表格教你看懂!

                2021-10-15 16:16:00
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                Image
                九月、國慶假期芯資訊匯總:漲價無懸念繼續(xù),監(jiān)管打擊炒貨

                開年以來,芯片缺貨漲價一直持續(xù),嚴(yán)重影響電子產(chǎn)業(yè)鏈秩序。9月份,全產(chǎn)業(yè)鏈漲價動向活躍,涵蓋原廠、芯片代工廠以及硅晶圓廠。缺貨漲價行情之下,囤積炒貨等亂象頻現(xiàn),已被廣泛討論

                2021-10-15 13:54:00
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                「盤點(diǎn)」15種常用電子元器件好壞的實(shí)用鑒別方法
                「盤點(diǎn)」15種常用電子元器件好壞的實(shí)用鑒別方法

                多種電子元器件好壞的實(shí)用鑒別方法,設(shè)備儀器發(fā)生故障大多是由于電子元器件失效或損壞引起的,因此電子元器件檢測尤其重要。在這里,創(chuàng)芯小編給大家盤點(diǎn)15種常用電子元器件好壞的實(shí)用鑒別方法。電子設(shè)備中使用著大量各種類型的電子元器件,設(shè)備發(fā)生故障大多是由于電子元器件失效或損壞引起的。特別對初學(xué)者來說,熟練掌握常用元器件的檢測方法和經(jīng)驗很有必要。下面是部分常見電子元器件檢測經(jīng)驗和技巧,希望對大家有所幫助。

                2021-10-14 14:14:50
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                電子元器件老化性能測試的項目類型及目的
                電子元器件老化性能測試的項目類型及目的

                在電子產(chǎn)品在加工過程中,由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用,無論是加工缺陷還是元器件缺陷,都可分為明顯缺陷和潛在缺陷,明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷,例如短路/斷路。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時可以使用,但在使用中缺陷會很快暴露出來,產(chǎn)品不能正常工作。潛在缺陷則無法用常規(guī)檢驗手段發(fā)現(xiàn),而是運(yùn)用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好,則未被剔除的潛在缺陷將最終在產(chǎn)品運(yùn)行期間以早期失效(或故障)的形式表現(xiàn)出來,從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升,維修成本增加。

                2021-10-14 11:57:00
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                可焊性測試:一般焊接缺陷及產(chǎn)生的原因整理
                可焊性測試:一般焊接缺陷及產(chǎn)生的原因整理

                可焊性是指在錫焊的過程中將焊料、焊件與銅箔在焊接熱的作用下,焊件與銅箔不熔化,焊料熔化并濕潤焊接面,從而引起焊料金屬的擴(kuò)散形成在銅箔與焊件之間的金屬附著層,并使銅箔與焊件連接在一起,就得到牢固可靠的焊接點(diǎn),以上過程為相互間的物理作用過程的效果。如果能完全與錫浸潤就是可焊性好,否則就要根據(jù)效果判斷可焊性。

                2021-10-14 11:54:33
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                「檢測知識」實(shí)驗室常用芯片失效分析的方法及手段
                「檢測知識」實(shí)驗室常用芯片失效分析的方法及手段

                一般來說,芯片在研發(fā)、生產(chǎn)過程中出現(xiàn)錯誤是不可避免的,就如房缺補(bǔ)漏一樣,哪里出了問題你僅要解決問題,還要思考為什么會出現(xiàn)問題。隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,社會的發(fā)展就是一個發(fā)現(xiàn)問題解決問題的過程,出現(xiàn)問題不可怕,但頻繁出現(xiàn)同一類問題是非??膳碌摹1疚闹饕接懙木褪侨绾芜M(jìn)行有效的芯片失效分析的解決方案以及常見的分析手段。

                2021-10-13 18:27:25
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                1 2 … 132 133 134 135 136 … 158 159
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