<td id="16116"></td>
    服務(wù)項(xiàng)目
    IC真?zhèn)螜z測(cè)
    DPA檢測(cè)
    失效分析
    開發(fā)及功能驗(yàn)證
    材料分析
    可靠性驗(yàn)證
    電磁兼容(EMC)
    化學(xué)分析
    無(wú)損檢測(cè)
    標(biāo)簽檢測(cè)
    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    功能檢測(cè)
    破壞性檢測(cè)
    丙酮測(cè)試
    刮擦測(cè)試
    HCT測(cè)試
    開蓋測(cè)試
    增值服務(wù)
    烘烤
    編帶
    包裝與物流
    DPA檢測(cè)-三級(jí)
    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    功能檢測(cè)
    粒子碰撞噪聲檢測(cè)
    密封
    內(nèi)部水汽含量
    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
    可焊性測(cè)試
    開蓋測(cè)試
    鍵合強(qiáng)度
    芯片剪切強(qiáng)度
    結(jié)構(gòu)
    非破壞分析
    3D數(shù)碼顯微鏡
    X-Ray檢測(cè)
    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
    電性檢測(cè)
    半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
    電特性測(cè)試
    點(diǎn)針信號(hào)量測(cè)
    靜電放電/過(guò)度電性應(yīng)力/閂鎖試驗(yàn)
    失效點(diǎn)定位
    砷化鎵銦微光顯微鏡
    激光束電阻異常偵測(cè)
    Thermal EMMI(InSb)
    破壞性物理分析
    開蓋測(cè)試
    芯片去層
    切片測(cè)試
    物性分析
    剖面/晶背研磨
    離子束剖面研磨(CP)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    工程樣品封裝服務(wù)
    晶圓劃片
    芯片打線/封裝
    競(jìng)爭(zhēng)力分析
    芯片結(jié)構(gòu)分析
    新產(chǎn)品開發(fā)測(cè)試(FT)
    FPGA開發(fā)
    單片機(jī)開發(fā)
    測(cè)試電路板設(shè)計(jì)/制作
    關(guān)鍵功能測(cè)試
    分立元器件測(cè)試
    功能檢測(cè)
    編程燒錄
    芯片電路修改
    芯片電路修改/點(diǎn)針墊偵錯(cuò)
    新型 WLCSP 電路修正技術(shù)
    結(jié)構(gòu)觀察
    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    雙束聚焦離子束
    成分分析
    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    光譜能量分析儀
    光譜能量分析儀
    車載集成電路可靠性驗(yàn)證
    車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC)
    板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證
    車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗(yàn)證
    可靠度板階恒加速試驗(yàn)
    間歇工作壽命試驗(yàn)(IOL)
    可靠度外形尺寸試驗(yàn)
    可靠度共面性試驗(yàn)
    環(huán)境類試驗(yàn)
    高低溫
    恒溫恒濕
    冷熱沖擊
    HALT試驗(yàn)
    HASS試驗(yàn)
    快速溫變
    溫度循環(huán)
    UV紫外老化
    氙燈老化
    水冷測(cè)試
    高空低氣壓
    交變濕熱
    機(jī)械類試驗(yàn)
    拉力試驗(yàn)
    芯片強(qiáng)度試驗(yàn)
    高應(yīng)變率-振動(dòng)試驗(yàn)
    低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗(yàn)
    高應(yīng)變率-機(jī)械沖擊試驗(yàn)
    芯片封裝完整性-封裝打線強(qiáng)度試驗(yàn)
    芯片封裝完整性-封裝體完整性測(cè)試
    三綜合(溫度、濕度、振動(dòng))
    四綜合(溫度、濕度、振動(dòng)、高度)
    自由跌落
    紙箱抗壓
    腐蝕類試驗(yàn)
    氣體腐蝕
    鹽霧
    臭氧老化
    耐試劑試驗(yàn)
    IP防水/防塵試驗(yàn)
    IP防水等級(jí)(IP00~IP69K)
    冰水沖擊
    浸水試驗(yàn)
    JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測(cè)試
    IP防塵等級(jí)(IP00~IP69)
    電磁兼容(EMC)
    射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
    傳導(dǎo)干擾測(cè)試
    電磁輻射比吸收率測(cè)試
    電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
    電壓閃爍測(cè)試
    電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度
    工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試
    諧波干擾測(cè)試
    靜電放電抗擾度測(cè)試
    浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試
    輻射干擾測(cè)試
    無(wú)線射頻測(cè)試
    高效液相色譜分析(HPLC)
    ROHS檢測(cè)
    裂解/氣相色譜/質(zhì)譜聯(lián)用分析(PY-GC-MS)
    REACH檢測(cè)
    電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析(ICP-OES)
    重金屬檢測(cè)
    無(wú)鉛測(cè)試
    阻燃性試驗(yàn)
    阻燃性試驗(yàn)
    應(yīng)用領(lǐng)域
    案例標(biāo)準(zhǔn)
    測(cè)試案例(報(bào)告形式)
    檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
    IC真?zhèn)螜z測(cè)
    失效分析
    功能檢測(cè)
    開蓋檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    編程燒錄
    可焊性測(cè)試
    外觀檢測(cè)
    電特性測(cè)試
    切片檢測(cè)
    SAT檢測(cè)
    DPA檢測(cè)
    ROHS檢測(cè)
    溫度老化測(cè)試
    IGBT檢測(cè)
    AS6081標(biāo)準(zhǔn)
    AEC-Q100測(cè)試項(xiàng)目
    參考標(biāo)準(zhǔn)
    GJB 548標(biāo)準(zhǔn)
    新聞動(dòng)態(tài)
    關(guān)于我們
    企業(yè)概括 發(fā)展歷程 榮譽(yù)資質(zhì) 企業(yè)文化 人才招聘 聯(lián)系方式
    會(huì)員登錄
    登錄 注冊(cè)
    EN
    ?公司新聞?
    ?風(fēng)險(xiǎn)分析報(bào)告?
    ?行業(yè)資訊?
    ?資料下載?
    ?常見問(wèn)題?
    無(wú)損檢測(cè)相關(guān)知識(shí):什么是工業(yè)CT?
    無(wú)損檢測(cè)相關(guān)知識(shí):什么是工業(yè)CT?

    工業(yè)CT,即工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù),被譽(yù)為”最佳無(wú)損檢測(cè)手段“。利用工業(yè)CT可以非接觸、非破壞地檢測(cè)物體內(nèi)部結(jié)構(gòu),得到?jīng)]有重疊的數(shù)據(jù)和圖像,不僅精確地給出物體內(nèi)部細(xì)節(jié)的三維位置數(shù)據(jù),還可以定量地給出細(xì)節(jié)的輻射密度數(shù)據(jù)??焖?、準(zhǔn)確、直觀的查找到產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷(缺陷類型、位置、尺寸等),如裂紋、氣孔、疏松、夾雜等缺陷,并進(jìn)行分析,找到出現(xiàn)缺陷的根本原因,從而提高產(chǎn)品性能,延長(zhǎng)產(chǎn)品使用壽命。正因如此,使工業(yè)CT成為多才多藝的全面小能手。在精密工件內(nèi)部氣孔、裂紋等缺陷檢測(cè)、焊接質(zhì)量診斷、內(nèi)部結(jié)構(gòu)和組裝狀

    2021-09-14 17:39:03
    查看詳情
    機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)在元器件表面檢測(cè)中的應(yīng)用
    機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)在元器件表面檢測(cè)中的應(yīng)用

    隨著社會(huì)的進(jìn)步和科技的發(fā)展,自動(dòng)化檢測(cè)方法開始代替了傳統(tǒng)的人工方法來(lái)提高企業(yè)生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量,基于自動(dòng)化檢測(cè)不僅解決了人工方法效率低,速度慢,以及受檢測(cè)人員主觀性制約等不確定因素帶來(lái)的誤檢及漏檢,而且很多系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了接近100%缺陷檢測(cè)。目前基于機(jī)器視覺(jué)的自動(dòng)化缺陷檢測(cè)得到廣泛應(yīng)用。光學(xué)元件的質(zhì)量主要取決于表面質(zhì)量, 而面形偏差檢測(cè)、表面粗糙度、表面疵病的檢測(cè)則是評(píng)價(jià)光學(xué)元件表面質(zhì)量的主要項(xiàng)目。今天就為大家介紹的是機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)。

    2021-09-14 17:33:30
    查看詳情
    漲知識(shí)!五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)原理
    漲知識(shí)!五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)原理

    目前無(wú)損檢測(cè)(NDT)技術(shù)運(yùn)用十分廣泛,幾乎所有組件的結(jié)構(gòu)完整性和安全性,尤其是最關(guān)鍵的組件,都需要進(jìn)行驗(yàn)證,無(wú)損檢測(cè)在其中起著非常重要的作用。幾乎所有制造、服務(wù)、維修或大修檢查領(lǐng)域都需要無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)原理,無(wú)損檢測(cè)技術(shù)不破壞零件或材料,可以直接在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行檢測(cè),而且效率高。最常用的無(wú)損檢測(cè)主要有五種:超聲檢測(cè) UT(Ultrasonic Testing)、射線檢測(cè) RT(Radiographic Testing) 、磁粉檢測(cè) MT(Magnetic particle Testin

    2021-09-14 14:31:39
    查看詳情
    關(guān)于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的詳細(xì)講解
    關(guān)于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的詳細(xì)講解

    現(xiàn)代無(wú)損檢測(cè)技術(shù)可以簡(jiǎn)單地分為兩類:表面無(wú)損檢測(cè)與近表面無(wú)損檢測(cè)。表面無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一項(xiàng)用于檢測(cè)產(chǎn)品表面缺陷的技術(shù),如熒光滲透檢測(cè),它能有效定位存在于表面中的裂紋或其它類型的缺陷。近表面無(wú)損檢測(cè)技術(shù)則用于檢測(cè)表面之下的缺陷。包括超聲檢測(cè)、激光檢測(cè)和射線檢測(cè)等方法。無(wú)損檢測(cè)方法有很多種,其中大部分可分為兩類:表面和內(nèi)部檢測(cè)。表面檢測(cè)方法用于檢測(cè)表面或非常接近表面的缺陷和異常,最常用的兩種方法是滲透檢測(cè)和激光剪切成像。

    2021-09-14 14:24:00
    查看詳情
    一般電子元器件檢測(cè)報(bào)告怎么辦理?有什么要求?
    一般電子元器件檢測(cè)報(bào)告怎么辦理?有什么要求?

    檢測(cè)報(bào)告要找相關(guān)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè),檢測(cè)機(jī)構(gòu)一般需要具備CMA和CNAS資質(zhì)才能出具有效力的檢測(cè)報(bào)告。根據(jù)《中華人民共和國(guó)產(chǎn)品質(zhì)量法》第十九條 產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)必須具備相應(yīng)的檢測(cè)條件和能力,經(jīng)省級(jí)以上人民政府市場(chǎng)監(jiān)督管理部門或者其授權(quán)的部門考核合格后,方可承擔(dān)產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)工作。法律、行政法規(guī)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)另有規(guī)定的,依照有關(guān)法律、行政法規(guī)的規(guī)定執(zhí)行。那么一般電子元器件檢測(cè)報(bào)告怎么辦理?有什么要求?

    2021-09-14 14:19:07
    查看詳情
    Rohs認(rèn)證
    [歐盟]RoHS2.0檢測(cè)項(xiàng)目及常見問(wèn)題介紹

    如今ROHS認(rèn)證已經(jīng)升級(jí)為ROHS2.0了,不但是歐盟ROHS升級(jí)還有中國(guó)ROHS也升級(jí)為ROHS2了。RoHS檢測(cè)共有十項(xiàng),一般可以分為四項(xiàng),六項(xiàng)和十項(xiàng)。RoHS1.0是舊版2002/95/EC,RoHS2.0是現(xiàn)行2011/65/EU,修訂是2015/863,不是RoHS3.0。歐盟rohs2.0總共檢測(cè)幾項(xiàng)?2011/65/EC指令改為RoHS10項(xiàng):鉛(Pb),鎘(Cd),汞(Hg),六價(jià)鉻(Cr6+),多溴聯(lián)苯(PBBs)和多溴聯(lián)苯醚(PBDEs),增鄰苯二甲酸二正丁酯(DBP),鄰苯

    2021-09-13 16:03:00
    查看詳情
    RoHS2.0什么時(shí)候開始?RoHS2.0生效日期和強(qiáng)制執(zhí)行日期.png
    RoHS2.0什么時(shí)候?qū)嵤??RoHS2.0生效日期和強(qiáng)制執(zhí)行日期

    隨著電子電器設(shè)備的快速成倍增長(zhǎng),大量的電子廢棄物也迅速增加,為控制電子電氣廢棄物對(duì)生態(tài)環(huán)境的污染,不同國(guó)家或地區(qū)都頒布了相關(guān)的法律法規(guī)來(lái)管控。其中,歐盟限制電機(jī)電子產(chǎn)品中10類有害物質(zhì)的指令RoHS2.0,要求自2019年7月22日起,所有輸歐電子電器產(chǎn)品(除醫(yī)療和監(jiān)控設(shè)備)均需滿足該限制要求。RoHS是進(jìn)入歐盟市場(chǎng)產(chǎn)品及材料的環(huán)保證明,該指令屬于強(qiáng)制要求涉及該指令的產(chǎn)品或材料不能出具RoHS環(huán)保證明將無(wú)法進(jìn)入市場(chǎng)銷售。RoHS2.0的執(zhí)行關(guān)乎出口歐盟的電子電器廠商利益,所以今天我們就一起來(lái)看看

    2021-09-13 15:52:00
    查看詳情
    X-ray檢測(cè)IGBT內(nèi)部缺陷有什么優(yōu)勢(shì)?
    X-ray檢測(cè)IGBT內(nèi)部缺陷有什么優(yōu)勢(shì)?

    IGBT是由雙極晶體管和絕緣柵場(chǎng)效應(yīng)晶體管組成的復(fù)合完全受控電壓驅(qū)動(dòng)功率半導(dǎo)體設(shè)備,具有MOSFET高輸入阻抗和GTR低導(dǎo)通壓降兩大優(yōu)點(diǎn)。

    2021-09-13 15:15:00
    查看詳情
    缺陷對(duì)半導(dǎo)體電性能有什么影響?使用x-ray檢測(cè)內(nèi)部缺陷的優(yōu)點(diǎn)
    缺陷對(duì)半導(dǎo)體電性能有什么影響?使用x-ray檢測(cè)內(nèi)部缺陷的優(yōu)點(diǎn)

    當(dāng)半導(dǎo)體中摻入微量雜質(zhì)時(shí),雜質(zhì)原子附近的周期勢(shì)場(chǎng)受到干擾,形成額外的束縛狀態(tài),在禁帶中產(chǎn)生額外的雜質(zhì)能級(jí)。能夠提供電子載流子的雜質(zhì)稱為施主(Donor)雜質(zhì),相應(yīng)的能級(jí)稱為施主能級(jí),位于禁帶上方靠近導(dǎo)帶底部。

    2021-09-13 15:12:00
    查看詳情
    什么是性能、功能測(cè)試?常見的性能檢測(cè)方法有哪些?
    什么是性能、功能測(cè)試?常見的性能檢測(cè)方法有哪些?

    性能測(cè)試一般指的是功能測(cè)試,主要測(cè)試還設(shè)備運(yùn)用的功能有哪些,就測(cè)那些固定參數(shù)是否符合規(guī)定。性能測(cè)試是通過(guò)自動(dòng)化的測(cè)試工具模擬多種正常、峰值以及異常負(fù)載條件來(lái)對(duì)系統(tǒng)的各項(xiàng)性能指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。負(fù)載測(cè)試和壓力測(cè)試都屬于性能測(cè)試,兩者可以結(jié)合進(jìn)行。功能測(cè)試就是對(duì)產(chǎn)品的各功能進(jìn)行驗(yàn)證,根據(jù)功能測(cè)試用例,逐項(xiàng)測(cè)試,檢查產(chǎn)品是否達(dá)到用戶要求的功能。

    2021-09-13 11:21:00
    查看詳情
    1 2 … 139 140 141 142 143 … 158 159
    熱門文章
    UV測(cè)試是什么?UV測(cè)試通用檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及流程 什么是電氣性能?電氣性能測(cè)試包括什么? 溫升測(cè)試(Temperature rise test)-電性能測(cè)試 芯片開蓋(Decap)檢測(cè)的有效方法及全過(guò)程細(xì)節(jié) CNAS認(rèn)證是什么?實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行CNAS認(rèn)可的目的及意義 焊縫檢測(cè)探傷一級(jí)二級(jí)三級(jí)標(biāo)準(zhǔn)是多少? 芯片切片分析是什么?如何進(jìn)行切片分析試驗(yàn)? 什么是IC測(cè)試?實(shí)現(xiàn)芯片測(cè)試的解決方法介紹 百格測(cè)試(cross-cut test)-可靠性測(cè)試
    熱門標(biāo)簽
    • IC真?zhèn)螜z測(cè)
    • DPA檢測(cè)
    • 失效分析
    • 開發(fā)及功能驗(yàn)證
    • 材料分析
    • 可靠性驗(yàn)證
    • 化學(xué)分析
    • 外觀檢測(cè)
    • X-Ray檢測(cè)
    • 功能檢測(cè)
    • SAT檢測(cè)
    • 可焊性測(cè)試
    • 開蓋測(cè)試
    • 丙酮測(cè)試
    • 刮擦測(cè)試
    • HCT測(cè)試
    • 切片測(cè)試
    • 電子顯微鏡分析
    • 電特性測(cè)試
    • FPGA開發(fā)
    • 單片機(jī)開發(fā)
    • 編程燒錄
    • 掃描電鏡SEM
    • 穿透電鏡TEM
    • 高低溫試驗(yàn)
    • 冷熱沖擊
    • 快速溫變ESS
    • 溫度循環(huán)
    • ROHS檢測(cè)
    • 無(wú)鉛測(cè)試
    全國(guó)熱線

    4008-655-800

    CXOLab創(chuàng)芯在線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

    深圳市龍崗區(qū)吉華街道水徑社區(qū)吉華路393號(hào)英達(dá)豐工業(yè)園A棟2樓

    深圳市福田區(qū)華強(qiáng)北街道振華路深紡大廈C座3樓N307

    粵ICP備2023133780號(hào)    創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025

    服務(wù)項(xiàng)目
    • IC真?zhèn)螜z測(cè)
    • DPA檢測(cè)
    • 失效分析
    • 開發(fā)及功能驗(yàn)證
    • 材料分析
    • 可靠性驗(yàn)證
    • 電磁兼容(EMC)
    • 化學(xué)分析
    應(yīng)用領(lǐng)域
    • 5G通訊技術(shù)
    • 汽車電子
    • 軌道交通
    • 智慧醫(yī)療
    • 光電產(chǎn)業(yè)
    • 新能源
    案例標(biāo)準(zhǔn)
    • 測(cè)試案例
    • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
    新聞動(dòng)態(tài)
    • 企業(yè)新聞
    • 風(fēng)險(xiǎn)分析報(bào)告
    • 行業(yè)資訊
    • 資料下載
    • 常見問(wèn)題
    關(guān)于創(chuàng)芯檢測(cè)
    • 企業(yè)狀況
    • 發(fā)展歷程
    • 榮譽(yù)資質(zhì)
    • 企業(yè)文化
    • 人才招聘
    • 聯(lián)系方式

    友情鏈接:

    粵ICP備2023133780號(hào)

    創(chuàng)芯在線 Copyright ? 2019 - 2025

    首頁(yè)

    報(bào)價(jià)申請(qǐng)

    電話咨詢

    QQ客服

    • QQ咨詢

      客服1咨詢 客服2咨詢 客服3咨詢 客服4咨詢 在線咨詢
    • 咨詢熱線

      咨詢熱線:

      0755-82719442
      0755-23483975

    • 官方微信

      歡迎關(guān)注官方微信

    • 意見反饋

    • TOP

    意見反饋

    為了能及時(shí)與您取得聯(lián)系,請(qǐng)留下您的聯(lián)系方式

    手機(jī):
    郵箱:
    公司:
    聯(lián)系人:

    手機(jī)、郵箱任意一項(xiàng)必填,公司、聯(lián)系人選填

    報(bào)價(jià)申請(qǐng)
    檢測(cè)產(chǎn)品:
    聯(lián)系方式:
    項(xiàng)目概況:
    提示
    確定

    感谢您访问我们的网站,您可能还对以下资源感兴趣:

    中文弹幕日产无线码一区
  1. <big id="66616"></big>