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    IC真?zhèn)螜z測(cè)
    DPA檢測(cè)
    失效分析
    開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
    材料分析
    可靠性驗(yàn)證
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    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
    功能檢測(cè)
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    丙酮測(cè)試
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    HCT測(cè)試
    開(kāi)蓋測(cè)試
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    DPA檢測(cè)-三級(jí)
    外觀檢測(cè)
    X-Ray檢測(cè)
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    開(kāi)蓋測(cè)試
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    X-Ray檢測(cè)
    超聲波掃描(SAT檢測(cè))
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    靜電放電/過(guò)度電性應(yīng)力/閂鎖試驗(yàn)
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    激光束電阻異常偵測(cè)
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    破壞性物理分析
    開(kāi)蓋測(cè)試
    芯片去層
    切片測(cè)試
    物性分析
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    離子束剖面研磨(CP)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
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    晶圓劃片
    芯片打線/封裝
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    芯片結(jié)構(gòu)分析
    新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)測(cè)試(FT)
    FPGA開(kāi)發(fā)
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    測(cè)試電路板設(shè)計(jì)/制作
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    編程燒錄
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    芯片電路修改/點(diǎn)針墊偵錯(cuò)
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    掃描式電子顯微鏡(SEM)
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    成分分析
    穿透式電子顯微鏡(TEM)
    掃描式電子顯微鏡(SEM)
    光譜能量分析儀
    光譜能量分析儀
    車載集成電路可靠性驗(yàn)證
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    芯片封裝完整性-封裝體完整性測(cè)試
    三綜合(溫度、濕度、振動(dòng))
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    IP防水等級(jí)(IP00~IP69K)
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    浸水試驗(yàn)
    JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測(cè)試
    IP防塵等級(jí)(IP00~IP69)
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    傳導(dǎo)干擾測(cè)試
    電磁輻射比吸收率測(cè)試
    電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
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    包裝跌落測(cè)試項(xiàng)目及辦理標(biāo)準(zhǔn)解析
    包裝跌落測(cè)試項(xiàng)目及辦理標(biāo)準(zhǔn)解析

    包裝跌落測(cè)試是評(píng)估包裝產(chǎn)品在運(yùn)輸和搬運(yùn)過(guò)程中的抗沖擊性能的重要手段。本文將介紹包裝跌落測(cè)試的項(xiàng)目和辦理標(biāo)準(zhǔn),以幫助讀者了解如何正確進(jìn)行包裝跌落測(cè)試,確保產(chǎn)品在運(yùn)輸中的安全性。

    2024-05-22 13:55:32
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    電子產(chǎn)品為何需要進(jìn)行安規(guī)檢測(cè)?
    電子產(chǎn)品為何需要進(jìn)行安規(guī)檢測(cè)?

    安規(guī)檢測(cè)(Safety Compliance Testing),也稱為產(chǎn)品安全性測(cè)試,是對(duì)產(chǎn)品的安全性能進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估的過(guò)程。主要目的是確保產(chǎn)品在正常使用條件下不會(huì)對(duì)使用者、環(huán)境或其他設(shè)備造成危害或危險(xiǎn)。這些測(cè)試是為了驗(yàn)證產(chǎn)品是否符合國(guó)際、國(guó)家或地區(qū)所制定的相關(guān)安全規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)。

    2024-05-22 13:55:12
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    三綜合試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹及應(yīng)用
    三綜合試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹及應(yīng)用

    三綜合試驗(yàn)是指對(duì)某種產(chǎn)品進(jìn)行多個(gè)方面的綜合測(cè)試,以評(píng)估其性能和可靠性。這些方面可能包括機(jī)械性能、電氣性能、環(huán)境適應(yīng)性等。三綜合試驗(yàn)的目的是驗(yàn)證產(chǎn)品在各種條件下的工作狀態(tài)和可靠性,以確保產(chǎn)品符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范要求。

    2024-05-20 13:56:12
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    電路板高低溫試驗(yàn)方法及注意事項(xiàng)
    電路板高低溫試驗(yàn)方法及注意事項(xiàng)

    電路板的高低溫試驗(yàn)是評(píng)估其在極端溫度條件下的可靠性和性能的重要步驟。本文介紹了電路板高低溫試驗(yàn)的基本原理、方法和注意事項(xiàng),以幫助讀者了解如何進(jìn)行有效的高低溫試驗(yàn),以確保電路板在各種環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性。

    2024-05-20 13:55:56
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    HAST試驗(yàn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)方法包括哪些?
    HAST試驗(yàn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)方法包括哪些?

    HAST試驗(yàn)是一種在高溫高濕條件下進(jìn)行的加速老化測(cè)試方法,旨在模擬電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的工作狀態(tài),評(píng)估其可靠性和壽命。該試驗(yàn)方法被廣泛應(yīng)用于電子元器件和設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制過(guò)程中。本文將重點(diǎn)介紹HAST試驗(yàn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)方法,以便讀者了解該試驗(yàn)的基本原理和操作流程。

    2024-05-17 11:06:30
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    電子電器高低溫交變濕熱測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
    電子電器高低溫交變濕熱測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

    電子電器在使用過(guò)程中,經(jīng)常會(huì)面臨各種極端環(huán)境條件的考驗(yàn),其中高低溫交變濕熱環(huán)境是一項(xiàng)重要的測(cè)試指標(biāo)。為了確保電子電器在惡劣環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性,制定了一系列的高低溫交變濕熱測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)旨在模擬真實(shí)世界中的溫度和濕度變化,以評(píng)估電子電器在不同工作條件下的性能表現(xiàn)和耐久性。在本文中,我們將探討電子電器高低溫交變濕熱測(cè)試的重要性以及相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試方法。通過(guò)深入了解這些測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),我們可以更好地了解電子電器在惡劣環(huán)境下的表現(xiàn),并為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和質(zhì)量控制提供有力支持。

    2024-05-17 11:06:19
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    電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目 專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)推薦
    電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目 專業(yè)檢測(cè)機(jī)構(gòu)推薦

    可靠性試驗(yàn)是把試驗(yàn)樣品放置于人工模擬的儲(chǔ)存、運(yùn)輸和工作環(huán)境中來(lái)進(jìn)行的相關(guān)可靠性試驗(yàn)統(tǒng)稱為環(huán)境試驗(yàn),考核各類產(chǎn)品在各種環(huán)境(振動(dòng)、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等)條件下的適應(yīng)能力,可靠性試驗(yàn)也是評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)方法之一。

    2024-05-16 17:02:43
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    電子產(chǎn)品跌落測(cè)試與條件探析
    電子產(chǎn)品跌落測(cè)試與條件探析

    電子產(chǎn)品在制造和運(yùn)輸過(guò)程中,常常面臨著跌落引起的損壞風(fēng)險(xiǎn)。為了確保電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和搬運(yùn)過(guò)程中的安全性,跌落測(cè)試成為必要的手段之一。本文將介紹電子產(chǎn)品的跌落測(cè)試方法和試驗(yàn)條件,以幫助讀者了解如何正確進(jìn)行電子產(chǎn)品的跌落測(cè)試,保障產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

    2024-05-16 17:02:29
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    教你如何辨別被動(dòng)器件和分立器件切片結(jié)構(gòu),滿足你的好奇心!
    教你如何辨別被動(dòng)器件和分立器件切片結(jié)構(gòu),滿足你的好奇心!

    從導(dǎo)電特性上看,各種材料可分為“導(dǎo)體”和“絕緣體”,而我們每天打交道的半導(dǎo)體,其導(dǎo)電特性介于二者之間,例如硅作為重要的半導(dǎo)體材料,被做成各種電子元器件,應(yīng)用在電子產(chǎn)品中。

    2024-05-15 10:12:47
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    鹽霧試驗(yàn)常用的三種方法
    鹽霧試驗(yàn)常用的三種方法

    在材料科學(xué)和工程領(lǐng)域,鹽霧試驗(yàn)是一種常用的測(cè)試方法,用于評(píng)估材料的耐腐蝕性能。通過(guò)模擬海洋環(huán)境中的鹽霧腐蝕,鹽霧試驗(yàn)可以幫助工程師和研究人員了解材料在惡劣環(huán)境下的表現(xiàn)。我們可以通過(guò)增加鹽霧環(huán)境中氯化物的濃度,可以加速樣品的腐蝕速率,這樣可以大大節(jié)約得出結(jié)果的時(shí)間。

    2024-05-14 16:47:46
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